先進製造與封測設備
Advanced Manufacturing & Packaging Equipment
Micro LED大型拼接顯示器快速量測技術
技術特色
本技術對μLED顯示器進行精準亮度色度快速量測，協助產業提升產品品質與產線檢測效率。
技術說明
本技術從二維影像式量測技術出發，拓展應用至量測亮度(Luminance)與色度(Chromaticity)。因應臺灣顯示器產業，專注且快速的發展μLED相關顯示產品，但檢測技術卻難以跟上，導致產品品質與產線檢測效率，鮮少有可協助快速檢測的方法與機制。因此，本技術將以此為切入點，以μLED相關顯示產品為基礎，計算二維影像之畫素尺寸、收光角度與量測距離，確保影像畫素可有效涵蓋整體顯示器，並視環境情況，有效降低量測速度，達成快速量測的目標。此外，在產業將產品越做越小且顯示亮度顯著上升的同時，本技術未來將持續精進，逐步縮小量測的畫素尺寸並擴大亮度量測範圍，使量測技術有效跟上產業的腳步，協助其有效掌握產品品質與產品狀態。
技術聯絡人
姓名：洪紹棠
電話：03-5732142
信箱：sthung@itri.org.tw
